走査電子顕微鏡
材料・組織試験機器 詳細
工業技術センターに設置しております機器の一部をご紹介します。 一部の機器については一般に開放しています。依頼試験などについては別途お問い合わせください。 希望される試験機器以外の方法での評価が実施できる場合や、他の公設試験場が保有する機器のご紹介ができる場合もございますので、詳細についてはお気軽にお問い合わせください。
| 機器名 | 走査電子顕微鏡 |
|---|---|
| 分類 | 材料・組織試験機器 |
| 概要 |
細く絞った電子線を用いることで、試料表面の状態を観察することができる装置です。特に、凸凹のある試料を立体的に観察することが可能です。金属部品の破壊原因の究明（破面観察）やめっき層の厚さの確認などに活用できます。 |
| 型式 |
日本電子（株）JSM-7200F |
| 仕様 | ・電子銃：電解放出形 |
| 設置年度 | H28 |
| 設備使用料 |
設備使用料：2,150円/時間 |
| 写真 |
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| 備考 | ※（公財）ＪＫＡ補助対象機器 |
