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分析機器 詳細
 工業技術センターに設置しております機器の一部をご紹介します。  一部の機器については一般に開放しています。依頼試験などについては別途お問い合わせください。  希望される試験機器以外の方法での評価が実施できる場合や、他の公設試験場が保有する機器のご紹介ができる場合もございますので、詳細についてはお気軽にお問い合わせください。
 機器名 X線回折装置
 分類 分析機器
 概要

X線による回折を利用して、セラミックス、金属、高分子などの結晶構造を解析する装置です。
・物質の結晶構造の解析

 型式

(株)マック・サイエンスMXP3VA/DIP320

 仕様

X線最大定格負荷:3KVA
X線管球:Cu,Cr
2θ測定角度範囲:-60°~+160°
ゴニオメーター半径:185nm

 設置年度 H7
 設置使用料

一般に開放しておりません

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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 炭素・硫黄分析装置
 分類 分析機器
 概要

各種金属などの炭素及び硫黄の定量分析が可能です。

 型式

(株)堀場製作所 EMIA-820

 仕様

高周波誘導加熱-酸素気流中燃焼-赤外線吸収検知方式
測定範囲(試料:1g)
炭素:0~6w%
硫黄:0~1w%

 設置年度 H9
 設置使用料

一般に開放しておりません

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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 紫外可視分光光度計
 分類 分析機器
 概要

紫外・可視光の波長域における各種溶液の吸光度、透過率を測定する装置です。光の吸収特性が原子や分子に固有であることを利用して、定性、定量分析が行えます。
・鉄鋼材料中の元素分析(Mn、Pなど)

 型式

(株)島津製作所 UV-2500PC

 仕様

測定波長範囲:190~900nm
分解:0.1nm
測定方式:ダブルビーム
測光レンジ 吸光度:-4~5Abs
透過率(反射率):0~999.9%T(R)

 設置年度 H9
 設置使用料

設備使用料:110円/時間

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 備考
 機器名 示差熱熱重量同時測定装置
 分類 分析機器
 概要

温度をプログラムに従って変化させながら、試料の重量変化と吸熱・発熱を測定することができる装置です。熱安定性や熱分解挙動を評価することができます。
・プラスチックやゴムの熱分解挙動の測定

 型式

セイコーインスツルメンツ(株) TG/DTA6300

 仕様

重量測定:水平差動天秤方式
温度範囲:室温~1500℃(常用1300℃)
TG測定範囲:±0.1mg~±200mg
DTA測定範囲: ±2.5μV~±2500μV

 設置年度 H9
 設置使用料

設備使用料:760円/時間

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 備考
 機器名 高周波プラズマ発光分光分析装置
 分類 分析機器
 概要

高周波で励起されたアルゴンプラズマ中に霧化した溶液を導入したときに発光される光を測定することにより、元素の定性、定量分析が行える装置です。
・多元素同時分析が可能

 型式

(株)島津製作所 ICPS-7500

 仕様

シーケンシャル形
同時内部標準分光可能
分解能:0.0066nm(160~458nm)、0.013nm(458~850nm)

 設置年度 H13
 設置使用料

一般に開放しておりません

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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 温湿度計測システム
 分類 分析機器
 概要

データレコーダおよび湿度センサー、温度センサーです。データレコーダにより各種センサーからの出力値を記録します。

 型式

(株)キーエンス GR-3500

 仕様

最速サンプリング周期:10ms

対応熱電対:K、J、E、T、R、S、B、N、W

チャンネル数:16ch

 設置年度 H16
 設置使用料

設備使用料:180円/時間

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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 接触角測定装置
 分類 分析機器
 概要

個体と液体が接触するときに為す角(接触角)を測定することにより、固体表面の液体に対する濡れ性・親和性の評価を行います。

 型式

協和界面科学(株) Dropmaster700

 仕様

測定可能範囲:0~180°
測定精度:±1°
試料台寸法:150mm×150mm
固定試料最大高さ:30mm
測定方法:CCDカメラによる撮影と画像処理とによる液滴法・拡張収縮法
解析方法:θ/2法・接線法(測定後の変更可)

 設置年度 H16
 設置使用料

設備使用料:100円/時間

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 備考 ※経済産業省補助対象機器
 機器名 蛍光X線分析機器装置
 分類 分析機器
 概要

X線を試料に照射して、その試料の中にどの様な元素が含まれているかを調べる装置です。基本的には、試料を燃焼したり、溶解したりせずに、そのままの状態で多元素の同時分析ができる特徴を持っています。

 型式

(株)島津製作所製 EDX-720型

 仕様

測定方法:エネルギー分散型(EDX)
X線管:ロジウム
試料観察:CCDカメラ
測定範囲:ナトリウム~ウラン
照射面積:φ1mm,φ3mm,φ5mm,φ10mm
1次フィルタ:鉛用,クロム用,カドミウム用,塩素用

 設置年度 H21
 設置使用料

一般に開放しておりません

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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 電子線マイクロアナライザー
 分類 分析機器
 概要

非常に細く絞った電子線を試料に照射し、試料表面の観察を行うとともにその部分から発生する特性X線を検出することで微小領域(サブミクロン~)の元素組成を明らかにする装置です。 金属材料中の介在物、腐食・変色、食品等に混入した異物などが、どんな元素で構成されているか(定性分析)、どれ位の量を含んでいるか(定量分析)、どんな濃度分布であるか(面分析、線分析)知ることが出来ます。

 型式

株式会社島津製作所 EPMA-1720H

 仕様

分析可能元素:ホウ素(B)~ウラン(U)
X線分光器:WDX(5ch)+EDX
フィラメント:CeB6,W
表面観察倍率:40~40万倍
二次電子分解能:5nm(加速電圧30kV,CeB6カソード)
最大試料寸法:100mm×100mm×50mmt

 設置年度 H23
 設置使用料

一般に開放しておりません

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 備考 ※総務省補助対象機器
 機器名 示差走査熱量計
 分類 分析機器
 概要

温度をプログラムに従って変化させながら、試料と基準物質に供給される熱エネルギーの差を検出する装置であり、物質の融点、融解熱、比熱容量の測定等に使用します。

 型式

パーキンエルマー株式会社 DSC8000

 仕様

・入力補償型

・温度範囲:-75~500℃(電気冷却器使用)

・昇温速度:0.01~300℃/min

・降温速度:0.01~150℃/min

・温度正確度:±0.05℃

・熱量正確度:±0.2%以内

 設置年度 H26
 設置使用料

設備使用料:760円/時間

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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 赤外分光光度計
 分類 分析機器
 概要

 試料に赤外光を照射し、透過又は反射した光を測定する装置です。測定で得られる赤外吸収スペクトルは、物質の化学構造によって固有の形状を示します。この特徴を利用して、有機材料の化学構造の推定や、対照品の赤外吸収スペクトルを測定して比較したりすることで製品中の異物や不良原因物質の同定、製品評価等に幅広く用いることができます。

 型式

日本分光(株) FT/IR-6600FV(本体部) IRT-5200(顕微鏡部)

 仕様

【本体部】

・検出器(測定波数範囲)

  DLATGS検出器(680 cm-1~30 cm-1

  DLATGS検出器(7800 cm-1~350 cm-1

  InGaAs検出器(12000 cm-1~4000 cm-1

・真空対応

・主な附属品

  近赤外用拡散反射測定装置

  1回反射ATR測定装置(ゲルマニウム、ダイヤモンド)

 

【顕微鏡部】

・検出器(測定波数範囲)

  MCT検出器(7800 cm-1~600 cm-1

・主な附属品

  ATR測定装置(ゲルマニウム、ダイヤモンド)

 設置年度 H30
 設置使用料

設備使用料:1,480円/時間

 写真
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 備考 ※(公財)JKA補助対象機器
 機器名 天びん
 分類 分析機器
 概要

この機器は、試料の質量を測定する装置です。

静電気を除去する装置を備えています。

 型式

(株)島津製作所製 UW1020H

 仕様

ひょう量:1020g

最小表示:0.001g

 設置年度 R1
 設置使用料

設備使用料:100円/時間

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 備考

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