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工業技術センターに設置しております機器の一部をご紹介します。 一部の機器については一般に開放しています。依頼試験などについては別途お問い合わせください。 希望される試験機器以外の方法での評価が実施できる場合や、他の公設試験場が保有する機器のご紹介ができる場合もございますので、詳細についてはお気軽にお問い合わせください。
機器名 | X線回折装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
X線による回折を利用して、セラミックス、金属、高分子などの結晶構造を解析する装置です。 |
型式 |
(株)マック・サイエンスMXP3VA/DIP320 |
仕様 | X線最大定格負荷:3KVA |
設置年度 | H7 |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 紫外可視分光光度計 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
紫外・可視光の波長域における各種溶液の吸光度、透過率を測定する装置です。光の吸収特性が原子や分子に固有であることを利用して、定性、定量分析が行えます。 |
型式 |
(株)島津製作所 UV-2500PC |
仕様 | 測定波長範囲:190~900nm |
設置年度 | H9 |
設備使用料 |
設備使用料:110円/時間 |
写真 |
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備考 |
機器名 | 示差熱熱重量同時測定装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
温度をプログラムに従って変化させながら、試料の重量変化と吸熱・発熱を測定することができる装置です。熱安定性や熱分解挙動を評価することができます。 |
型式 |
セイコーインスツルメンツ(株) TG/DTA6300 |
仕様 | 重量測定:水平差動天秤方式 |
設置年度 | H9 |
設備使用料 |
設備使用料:760円/時間 |
写真 |
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備考 |
機器名 | 高周波プラズマ発光分光分析装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
高周波で励起されたアルゴンプラズマ中に霧化した溶液を導入したときに発光される光を測定することにより、元素の定性、定量分析が行える装置です。 |
型式 |
(株)島津製作所 ICPS-7500 |
仕様 | シーケンシャル形 |
設置年度 | H13 |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 温湿度計測システム |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
データレコーダおよび湿度センサー、温度センサーです。データレコーダにより各種センサーからの出力値を記録します。 |
型式 |
(株)キーエンス GR-3500 |
仕様 | 最速サンプリング周期:10ms 対応熱電対:K、J、E、T、R、S、B、N、W チャンネル数:16ch |
設置年度 | H16 |
設備使用料 |
設備使用料:180円/時間 |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 接触角測定装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
個体と液体が接触するときに為す角(接触角)を測定することにより、固体表面の液体に対する濡れ性・親和性の評価を行います。 |
型式 |
協和界面科学(株) Dropmaster700 |
仕様 | 測定可能範囲:0~180° |
設置年度 | H16 |
設備使用料 |
設備使用料:100円/時間 |
写真 |
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備考 | ※経済産業省補助対象機器 |
機器名 | 蛍光X線分析機器装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
X線を試料に照射して、その試料の中にどの様な元素が含まれているかを調べる装置です。基本的には、試料を燃焼したり、溶解したりせずに、そのままの状態で多元素の同時分析ができる特徴を持っています。 |
型式 |
(株)島津製作所製 EDX-720型 |
仕様 | 測定方法:エネルギー分散型(EDX) |
設置年度 | H21 |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 電子線マイクロアナライザー |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
非常に細く絞った電子線を試料に照射し、試料表面の観察を行うとともにその部分から発生する特性X線を検出することで微小領域(サブミクロン~)の元素組成を明らかにする装置です。 金属材料中の介在物、腐食・変色、食品等に混入した異物などが、どんな元素で構成されているか(定性分析)、どれ位の量を含んでいるか(定量分析)、どんな濃度分布であるか(面分析、線分析)知ることが出来ます。 |
型式 |
株式会社島津製作所 EPMA-1720H |
仕様 | 分析可能元素:ホウ素(B)~ウラン(U) |
設置年度 | H23 |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 | ※総務省補助対象機器 |
機器名 | 示差走査熱量計 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
温度をプログラムに従って変化させながら、試料と基準物質に供給される熱エネルギーの差を検出する装置であり、物質の融点、融解熱、比熱容量の測定等に使用します。 |
型式 |
パーキンエルマー株式会社 DSC8000 |
仕様 | ・入力補償型 ・温度範囲:-75~500℃(電気冷却器使用) ・昇温速度:0.01~300℃/min ・降温速度:0.01~150℃/min ・温度正確度:±0.05℃ ・熱量正確度:±0.2%以内 |
設置年度 | H26 |
設備使用料 |
設備使用料:760円/時間 |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 酸素・窒素分析装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
この機器は、鉄鋼、非鉄等の金属材料及びセラミックス材料中の酸素と窒素を高精度に定量分析する装置です。 金属等の材料中に含まれる酸素、窒素は材料特性に大きく影響を与えることが知られています。JIS規格等への適合、品質管理、材料開発や製品開発に利用できます。 |
型式 |
(株)堀場製作所 EMGA-820H |
仕様 | 測定方法 測定範囲(試料:1.0g) |
設置年度 | H27(製造年度H21) |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 |
機器名 | pHメータ |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
本機器は、pH*を測定する装置です。 *pHとは水素イオンのモル濃度をmol/Lで除した値の逆数の常用対数で、水溶液の性質(酸性・アルカリ性の程度)をあらわす単位のこと。 |
型式 |
(株)堀場製作所 Fー72S |
仕様 | ・JIS 0形式 ・ガラス電極法 ・測定範囲pH0.000~14.000 |
設置年度 | R1 |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 赤外分光光度計 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
試料に赤外光を照射し、透過又は反射した光を測定する装置です。測定で得られる赤外吸収スペクトルは、物質の化学構造によって固有の形状を示します。この特徴を利用して、有機材料の化学構造の推定や、対照品の赤外吸収スペクトルを測定して比較したりすることで製品中の異物や不良原因物質の同定、製品評価等に幅広く用いることができます。 |
型式 |
日本分光(株) FT/IR-6600FV(本体部) IRT-5200(顕微鏡部) |
仕様 | 【本体部】 ・検出器(測定波数範囲) DLATGS検出器(680 cm-1~30 cm-1) DLATGS検出器(7800 cm-1~350 cm-1) InGaAs検出器(12000 cm-1~4000 cm-1) ・真空対応 ・主な附属品 近赤外用拡散反射測定装置 1回反射ATR測定装置(ゲルマニウム、ダイヤモンド)
【顕微鏡部】 ・検出器(測定波数範囲) MCT検出器(7800 cm-1~600 cm-1) ・主な附属品 ATR測定装置(ゲルマニウム、ダイヤモンド) |
設置年度 | H30 |
設備使用料 |
設備使用料:1,480円/時間 |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |
機器名 | 天びん |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
この機器は、試料の質量を測定する装置です。 静電気を除去する装置を備えています。 |
型式 |
(株)島津製作所製 UW1020H |
仕様 | ひょう量:1020g 最小表示:0.001g |
設置年度 | R1 |
設備使用料 |
設備使用料:100円/時間 |
写真 |
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備考 |
機器名 | 炭素・硫黄分析装置 |
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分類 | 分析・物理測定機器 |
概要 |
炭素・硫黄分析装置は、金属材料をはじめとする各種材料の特性に大きく影響を及ぼし、重要な元素である炭素と硫黄を、高精度に定量分析を行う装置です。 |
型式 |
(株)堀場製作所 EMIA-Expert |
仕様 | ・測定方式:酸素気流中高周波加熱・燃焼、赤外線吸収法 |
設置年度 | R2 |
設備使用料 |
一般に開放しておりません |
写真 |
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備考 | ※(公財)JKA補助対象機器 |