サイト内検索
- 広島市工業技術センター
- 分析機器 詳細
 |
| 分析機器 詳細 |
工業技術センターに設置しております機器の一部をご紹介します。 一部の機器については一般に開放しています。依頼試験などについては別途お問い合わせください。 希望される試験機器以外の方法での評価が実施できる場合や、他の公設試験場が保有する機器のご紹介ができる場合もございますので、詳細についてはお気軽にお問い合わせください。
|
| 低温型示差走査熱量計 |
| 温度をプログラムに従って変化させながら、試料と基準物質に供給される熱流の差を検出する装置であり、物質の融点、融解熱、比熱容量の測定等に使用します。 ・プラスチックの転移温度（融点、ガラス転移点）、転移熱、比熱容量の測定 |
| [型式] |
| セイコー電子工業（株） DSC-220C |
| [仕様] |
| 熱流束型 温度範囲：-150～725℃ 測定範囲：±100μW～±100mW |
| [設備使用料] |
| 設備使用料：750円/時間 |
 |
| ※（公財）ＪＫＡ補助対象機器 |
| ページTOPへ |
|
| Ｘ線回折装置 |
| Ｘ線による回折を利用して、セラミックス、金属、高分子などの結晶構造を解析する装置です。 ・物質の結晶構造の解析 |
| [型式] |
| (株)マック・サイエンスMXP3VA/DIP320 |
| [仕様] |
| X線最大定格負荷：3KVA X線管球：Cu,Cr 2θ測定角度範囲：-60°～+160° ゴニオメーター半径：185nm |
| [設備使用料] |
| 一般に開放しておりません |
 |
| ※（公財）ＪＫＡ補助対象機器 |
| ページTOPへ |
|
| 赤外分光光度計 |
| 試料に赤外線を照射し、その赤外吸収の強度を各波長について測定(赤外吸収スペクトル)する装置です。赤外吸収スペクトルから分子の構造を推測することができ、ゴム・プラスチック等の種類の鑑定、金属部品表面の残留有機物の分析に利用します。 |
| [型式] |
| 日本分光（株） ＦＴ／ＩＲ-３５０ |
| [仕様] |
| 測定波数範囲：7000～400cm-1 最高分解能：0.5cm-1 顕微測定機能付き |
| [設備使用料] |
| 設備使用料：950円/時間 |
 |
| ※中小企業庁補助対象機器 |
| ページTOPへ |
|
| 炭素・硫黄分析装置 |
| 各種金属などの炭素及び硫黄の定量分析が可能です。 |
| [型式] |
| (株)堀場製作所 EMIA-820 |
| [仕様] |
| 高周波誘導加熱-酸素気流中燃焼-赤外線吸収検知方式 測定範囲（試料：1g） 炭素：0～6w% 硫黄：0～1w% |
| [設備使用料] |
| 一般に開放しておりません |
 |
| ※（公財）ＪＫＡ補助対象機器 |
| ページTOPへ |
|
| 紫外可視分光光度計 |
| 紫外・可視光の波長域における各種溶液の吸光度、透過率を測定する装置です。光の吸収特性が原子や分子に固有であることを利用して、定性、定量分析が行えます。 ・鉄鋼材料中の元素分析（Ｍｎ、Ｐなど） |
| [型式] |
| （株）島津製作所 ＵＶ-２５００ＰＣ |
| [仕様] |
| 測定波長範囲：190～900nm 分解：0.1nm 測定方式：ダブルビーム 測光レンジ 吸光度：-4～5Abs 透過率（反射率）：０～９９９．９％Ｔ（Ｒ） |
| [設備使用料] |
| 設備使用料：１１０円/時間 |
 |
| ページTOPへ |
|
| 示差熱熱重量同時測定装置 |
| 温度をプログラムに従って変化させながら、試料の重量変化と吸熱・発熱を測定することができる装置です。熱安定性や熱分解挙動を評価することができます。 ・プラスチックやゴムの熱分解挙動の測定 |
| [型式] |
| セイコーインスツルメンツ（株） TG/DTA６３００ |
| [仕様] |
| 重量測定：水平差動天秤方式 温度範囲：室温～1500℃（常用1300℃） TG測定範囲：±0.1mg～±200mg DTA測定範囲: ±2.5μV～±2500μV |
| [設備使用料] |
| 設備使用料：750円/時間 |
 |
| ページTOPへ |
|
| 高周波プラズマ発光分光分析装置 |
| 高周波で励起されたアルゴンプラズマ中に霧化した溶液を導入したときに発光される光を測定することにより、元素の定性、定量分析が行える装置です。 ・多元素同時分析が可能 |
| [型式] |
| （株）島津製作所 ICPS-７５００ |
| [仕様] |
| シーケンシャル形 同時内部標準分光可能 分解能：0.0066nm(160～458nm）、0.013nm（458～850nm） |
| [設備使用料] |
| 設備使用料：一般に開放しておりません |
 |
| ※（公財）ＪＫＡ補助対象機器 |
| ページTOPへ |
|
| 接触角測定装置 |
| 個体と液体が接触するときに為す角（接触角）を測定することにより、固体表面の液体に対する濡れ性・親和性の評価を行います。 |
| [型式] |
| 協和界面科学（株） Dropmaster700 |
| [仕様] |
| 測定可能範囲：0～180° 測定精度：±１° 試料台寸法：150mm×150mm 固定試料最大高さ：30mm 測定方法：CCDカメラによる撮影と画像処理とによる液滴法・拡張収縮法 解析方法：θ/２法・接線法(測定後の変更可) |
| [設備使用料] |
| 設備使用料：100円/時間 |
 |
| ※経済産業省補助対象機器 |
| ページTOPへ |
|
| 蛍光Ｘ線分析機器装置 |
| Ｘ線を試料に照射して、その試料の中にどの様な元素が含まれているかを調べる装置です。基本的には、試料を燃焼したり、溶解したりせずに、そのままの状態で多元素の同時分析ができる特徴を持っています。 | |
|
|
| [型式] | |
| （株）島津製作所製 EDX-720型 | |
|
|
| [仕様] | |
| 測定方法：エネルギー分散型（EDX） Ｘ線管：ロジウム 試料観察：CCDカメラ 測定範囲：ナトリウム～ウラン 照射面積：φ1mm，φ3mm，φ5mm，φ10mm １次フィルタ：鉛用，クロム用，カドミウム用，塩素用 |
|
|
|
| [設備使用料] | |
| 一般に開放しておりません | |
|
|
 |
|
| ※（公財）ＪＫＡ補助対象機器 |
|
|
|
| ページTOPへ |
|
| 電子線マイクロアナライザー |
| 非常に細く絞った電子線を試料に照射し、試料表面の観察を行うとともにその部分から発生する特性X線を検出することで微小領域（サブミクロン～）の元素組成を明らかにする装置です。 金属材料中の介在物、腐食・変色、食品等に混入した異物などが、どんな元素で構成されているか（定性分析）、どれ位の量を含んでいるか（定量分析）、どんな濃度分布であるか（面分析、線分析）知ることが出来ます。 |
| [型式] |
| 株式会社島津製作所 EPMA-1720H |
| [仕様] |
| 分析可能元素：ホウ素(B)～ウラン(U) X線分光器：WDX(5ch)＋EDX フィラメント：CeB6，W 表面観察倍率：40～40万倍 二次電子分解能：5nm（加速電圧30kV，CeB6カソード） 最大試料寸法：100mm×100mm×50mmt |
| [設備使用料] |
| 一般に開放しておりません |
 |
| ※総務省補助対象機器 |
| ページTOPへ |
